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  • 開(kāi)關(guān)芯片質(zhì)檢高溫冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
    開(kāi)關(guān)芯片質(zhì)檢高溫冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱

    開(kāi)關(guān)芯片質(zhì)檢高溫冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是質(zhì)量監(jiān)測(cè)機(jī)用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或產(chǎn)品在瞬間經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,籍以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括鋰電池、金屬、塑料、橡膠、電子......等材料,可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考

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  • 電子器件抗低溫檢驗(yàn)兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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  • 手機(jī)發(fā)聲器芯片監(jiān)測(cè)兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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  • 小型36L兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱助藍(lán)制造
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  • 塑膠行業(yè)質(zhì)量檢測(cè)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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  • 阻傳感器芯片檢測(cè)高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱
    阻傳感器芯片檢測(cè)高低溫冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱

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  • 南京芯片鐳射測(cè)試交變冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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  • IC防水抗干擾芯片環(huán)境交變沖擊測(cè)試機(jī)
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